تفاصيل كتاب

RECOMBINATION LIFETIME MEASUREMENTS IN SILICON

✍ المؤلف: DINESH C. GUPTA- FRED R. BACHER

الناشر: AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIALS

سنة النشر:

المجال: هندسة الكترونية

رقم التصنيف: 621.3815 GUP- R

📍 موقع الكتاب في الرفوف:
الرف: | الصف: 5 | العمود: B 4