تفاصيل كتاب

YIELD AND RELIABILITY IN MICROWAVE CIRCUIT AND SYSTEM DESIGN

✍ المؤلف: MICHAEL D. MEEHAN _ JOHN PURVIANCE

الناشر: ARTECH HOUSE

سنة النشر: 1993

المجال: هندسة الكترونية

رقم التصنيف: 621.381 MEC-Y

📍 موقع الكتاب في الرفوف:
الرف: | الصف: 5 | العمود: 1 B